装置の校正
上述したように、電気的検知帯法では、懸濁液中の粒子を小さな径の細孔(アパチャー)に通すによって得られた電気パルスは粒子の体積と比例している。粒子体積(粒子径)が既知の標準粒子を用いて測定し、この比例定数を求める。この一連の操作が装置の校正である。
1.校正定数
式(1)のように、粒子体積(VP)は粒子がアパチャーを通過するときに得られる電気パルス(ΔV)と比例する。

ΔV:電気パルス I:一定電流値 S:アパチャーの断面積 ρ0:電解液の抵抗 Vp:粒子体積
式(1)の(I)は実際に流している定電流値であり、(ρ0/S2)の値は、電解液、アパチャー径、アパチャーの形状などで変わる。一般的に、(Kd)は、式(2)で表し、電流値(I)、アパチャーの断面積(S)、電解液の抵抗(ρ0)と関連している。
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実際の校正では、粒子径(あるいは体積)が正解に分かっている標準粒子(単分散粒子)を用いて測定し、(Kd)を決定する。決定された(Kd)で式(3)で個々の粒子径(d)を計算する。
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2.校正粒子の選択
校正粒子は、使用するアパチャー径に合わせて、選択する必要があり、通常、アパチャー径の10%-20%の径の標準粒子を使用する。最適な校正粒子は、表(1)の推奨する校正粒子を参考とする。
| アパチャー径(μm) | 校正粒子の粒径範囲(μm) | 推奨する校正粒子の公称径(μm) |
|---|---|---|
| 20 | 2 - 4 | 2 |
| 30 | 3 - 6 | 3 |
| 50 | 5 - 10 | 5 |
| 70 | 7 - 14 | 10 |
| 100 | 10 - 20 | 10 |
| 140 | 14 - 28 | 20 |
| 200 | 20 - 40 | 30 |
| 280 | 28 - 56 | 30 |
| 400 | 40 - 80 | 43 |
| 560 | 56 -128 | 65 |
| 1000 | 60 - 150 | 90 |
| 2000 | 90 - 260 | 90 |
(表1)
3.校正手順と頻度
- より精度が高いKdを求めるには、下記の手順に基づいて装置を校正する必要がある。
- 測定装置が正常に操作していることを確認後、電解液のバックブランドを測定する。
- 校正測定は、10回を行う。
- 校正ごとにKd 値を記録し、10回分の平均値を計算する。
| 測定 | Kd |
|---|---|
| 1 | 124.15 |
| 2 | 125.82 |
| 3 | 125.13 |
| 4 | 125.23 |
| 5 | 125.43 |
| 6 | 125.13 |
| 7 | 124.25 |
| 8 | 125.62 |
| 9 | 124.25 |
| 10 | 125.03 |
| 平均 | 125.00 |
(表2)
測定装置の校正頻度は、6ヶ月~1年に一度校正することを推奨する。しかし、装置の精度管理には、標準粒子または標準粒子に準じるサンプルを用いて、毎日の管理測定が必要である。