LS 13 320 XR

検出が困難だった微細な違いを測定

LS 13 320 XR は、次世代型PIDS技術*により更に高精度な測定と広いダイナミックレンジを搭載した今までにない粒度分布測定装置です。LS 13 320と同様に高速、高精度な測定を行えることに加え、シンプルな操作性でより効率的に運用できます。様々な進化を遂げ、より微細な違いを測定可能となったことで、お客様をより大きくサポートいたします。

  • 10 nm ～ 3,500 µmの広範囲を実測
  • 合否を自動ハイライトすることでより効率的に運用可能
  • わずかな操作で標準測定を設定できるソフトウェア

*Polarization Intensity Differential Scattering（偏光散乱強度差計測）

Resources + Tools
技術資料 21 CFR Part 11 性能 特長 PIDS技術
LS 13 320 XR, レーザー回折, 粒子測定

特長

微細な違いを確実に測定

  • 拡張された測定レンジ: 10 nm ～ 3,500 µm
  • レーザー回折に次世代型PIDS技術を組み合わせることで高精度測定と10 nmまでの実測が可能に
  • 複数のピークを、確実に再現性良く測定

使いやすいシンプルなソフトウェア

  • ３クリック以下で測定可能なプレコンフィグメソッド
  • 熟練度を問わないシンプルオペレーション
  • 測定結果をわずか１クリックでオーバーレイ表示
  • 自動合否ハイライト機能
  • 直観的なダイアグノスティックスが測定中のコンディションを通知

21 CFR Part 11 準拠

  • 規格に準拠したカスタム可能なセキュリティシステム
  • ４段階のセキュリティレベルから選択可能
  • 21 CFR Part 11（FDAが定めた電子署名/電子記録規格）に準拠した高度なセキュリティレベル

10 nm粒子の実測が可能なPIDS技術

  • 水平および垂直に偏光した3つの波長光をサンプルに照射
  • サンプルによる散乱光を角度域で検出
  • 各波長での水平および垂直偏光における散乱強度差により高精度な粒度分布を測定

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技術資料