LS 13 320 XR

検出が困難だった微細な違いを測定

LS 13 320 XR は、次世代型PIDS技術*により更に高精度な測定と広いダイナミックレンジを搭載した今までにない粒度分布測定装置です。LS 13 320と同様に高速、高精度な測定を行えることに加え、シンプルな操作性でより効率的に運用できます。様々な進化を遂げ、より微細な違いを測定可能となったことで、お客様をより大きくサポートいたします。

10 nm ～ 3,500 µmの広範囲を実測
合否を自動ハイライトすることでより効率的に運用可能
わずかな操作で標準測定を設定できるソフトウェア

*Polarization Intensity Differential Scattering（偏光散乱強度差計測）

特長

微細な違いを確実に測定

拡張された測定レンジ: 10 nm ～ 3,500 µm
レーザー回折に次世代型PIDS技術を組み合わせることで高精度測定と10 nmまでの実測が可能に
複数のピークを、確実に再現性良く測定

使いやすいシンプルなソフトウェア

３クリック以下で測定可能なプレコンフィグメソッド
熟練度を問わないシンプルオペレーション
測定結果をわずか１クリックでオーバーレイ表示
自動合否ハイライト機能
直観的なダイアグノスティックスが測定中のコンディションを通知

21 CFR Part 11 準拠

規格に準拠したカスタム可能なセキュリティシステム
４段階のセキュリティレベルから選択可能
21 CFR Part 11（FDAが定めた電子署名/電子記録規格）に準拠した高度なセキュリティレベル

10 nm粒子の実測が可能なPIDS技術

水平および垂直に偏光した3つの波長光をサンプルに照射
サンプルによる散乱光を角度域で検出
各波長での水平および垂直偏光における散乱強度差により高精度な粒度分布を測定

仕様

Light Source	Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range	10 nm - 3,500 µm
Fluid Compatibility	Emulsions, Suspensions, Powders

Reporting	PDF, Excel
Item Specifications Referenced	B98100

資料（日本語）

Title	Description	Language
アプリケーションノート：LS13 320 XRは10 nm-2000µmまで死角なし {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	ベックマン・コールター社のレーザー回折・散乱法を原理とした粒度分布測定装置（LS13320XR)用いて、ナノ粒子から大粒径サイズの粒子までの多種の標準粒子を混合した多分散系サンプルを測定	Japanese
アプリケーションノート：動的光散乱法では再現性が悪く、不安定で困っていませんか {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	ベックマン・コールター社のレーザー回折・散乱法を原理とした粒度分布測定装置（LS13320XR)用いて、これまで難しいとされた多分散系ナノ粒子を動的光散乱法（DLS)並みに測定できることを確認	Japanese
アプリケーションノート：産業用ドライカーボンの粒度分布測定 {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	ベックマン・コールター社のレーザー回折・散乱法を原理とした粒度分布測定装置（LS13320XR)と、他社製同原理の粒度分布測定装置を用いて、産業用ドライカーボンを測定比較	Japanese
アプリケーションノート：良好な粒度分布結果を得るためのサンプル前処理方法について {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	粒子サンプルの正確な測定のために、重要な要素が測定前のサンプル調製。レーザー回折・散乱法は、測定方法に湿式測定と乾式測定があり、測定方式により分散方法も異なる。本稿では、この各種の分散方法を紹介。	Japanese
アプリケーションノート：粒子物性装置を使用してマルチモーダルサンプルを用いた特性評価 {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	粒度分布測定における粒子径分解能や、各原理における長所と短所について説明。複数の原理の異なる粒子径測定機器を用いて、複雑な多分散系の混合サンプルを用いて測定した事例	Japanese
【カタログ】レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置 LS 13 320 XR {A7DF4F56-8AF9-4BF1-88BE-766AB73FBC6B}	LS 13 320 XRは、PIDS技術の向上と測定範囲の拡張により、より高い分解能、精度、そして再現性を実現した、次世代型のレーザー回折・散乱法粒度分布測定装置です。	Japanese

資料

Filter by:
All
Application Note
Article
Brochure/Flyer
Posters
Product Documentation
Whitepaper
Other

Title	Description
Particle Size Analysis Simple, Effective and Precise {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}
医薬品有効成分（API）/粉末賦形剤の粒子サイジング
Maintaining Data Integrity: Understanding FDA ALCOA Guidance
Beckman’s LS 13 320 XR Vs. Malvern Mastersizer {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}
LS 13 320 XR: Sample Preparation - How to measure success {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}
Control Standards and Method Recommendations for the LS 13 320 XR {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}
LS 13 320 XR - Laser Diffraction Particle Size Analyzer {A7DF4F56-8AF9-4BF1-88BE-766AB73FBC6B}
LS 13 320 XR Vs. Malvern Mastersizer {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	Industrial Application side by side comparison running a High Purity Carbon
The new LS 13 320 XR Extended Range 10 nm - 3500 μm {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	Application note exhibiting the extended range of the LS 13 320 XR
LS13320XR Laser Diffraction Particle Size Distribution Analyzer {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	Sample Preparation – How to measure success!
ALCOA+ Infographic	Guidance on Maintaining Data Integrity Infographic
Automating Quality Control Testing for Improved 21 CFR Part 11 and ALCOA Data Integrity {A0D0EF0B-43F2-431C-BEB0-69F98765BDC4}	Infographic showing manual to automated - how our QC Suite instruments help you comply with 21CFR part 11 ALCOA
21 CFR Part 11 QC Instrument Suite {279C6CA2-9797-4CFE-9CAA-5EAFAC29B60D}	This datasheet outlines QC steps, instruments, applications, regulations, and ALCOA compatibility.
Service Plans for Centrifuges and Particle Characterization Equipment {9E29D7A5-B5EC-470A-A5C1-4EF9BFAE9959}	Reliable instrument maintenance services for your Beckman Coulter centrifuge or particle characterization instrument
LS 13 320 XR Brochure {A7DF4F56-8AF9-4BF1-88BE-766AB73FBC6B}	Laser Diffraction Particle Size Analyzer - Difference You Can Measure
Quality Control Testing Instrumentation Solutions for GMP Manufacturing Brochure {A7DF4F56-8AF9-4BF1-88BE-766AB73FBC6B}	Brochure on instruments designed for Raw Materials QC, Production QC, and Final Product QC
ADAPT Software How To Guide {B14306BD-BB46-4B27-BF3E-B11862085BC7}
アプリケーションノート：LS13 320 XRは10 nm-2000µmまで死角なし {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	ベックマン・コールター社のレーザー回折・散乱法を原理とした粒度分布測定装置（LS13320XR)用いて、ナノ粒子から大粒径サイズの粒子までの多種の標準粒子を混合した多分散系サンプルを測定
アプリケーションノート：動的光散乱法では再現性が悪く、不安定で困っていませんか {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	ベックマン・コールター社のレーザー回折・散乱法を原理とした粒度分布測定装置（LS13320XR)用いて、これまで難しいとされた多分散系ナノ粒子を動的光散乱法（DLS)並みに測定できることを確認
アプリケーションノート：産業用ドライカーボンの粒度分布測定 {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	ベックマン・コールター社のレーザー回折・散乱法を原理とした粒度分布測定装置（LS13320XR)と、他社製同原理の粒度分布測定装置を用いて、産業用ドライカーボンを測定比較
アプリケーションノート：良好な粒度分布結果を得るためのサンプル前処理方法について {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	粒子サンプルの正確な測定のために、重要な要素が測定前のサンプル調製。レーザー回折・散乱法は、測定方法に湿式測定と乾式測定があり、測定方式により分散方法も異なる。本稿では、この各種の分散方法を紹介。
アプリケーションノート：粒子物性装置を使用してマルチモーダルサンプルを用いた特性評価 {442DF88C-CA7F-4B78-AF75-9D2B985534C0}	粒度分布測定における粒子径分解能や、各原理における長所と短所について説明。複数の原理の異なる粒子径測定機器を用いて、複雑な多分散系の混合サンプルを用いて測定した事例
【カタログ】レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置 LS 13 320 XR {A7DF4F56-8AF9-4BF1-88BE-766AB73FBC6B}	LS 13 320 XRは、PIDS技術の向上と測定範囲の拡張により、より高い分解能、精度、そして再現性を実現した、次世代型のレーザー回折・散乱法粒度分布測定装置です。

LS 13 320 XR

検出が困難だった微細な違いを測定

見積を依頼

PIDS技術

動画

ソフトウェア

データインテグリティ

機能

技術資料

性能

FAQ

トレーニング

特長

LS 13 320 XRの各モデル

仕様

資料（日本語）

資料

Technical Documents