PIDS技術
拡張した偏光散乱強度差計測（PIDS）技術によって、サブミクロンの大きさの粒径分析に必要な生データの高精度での測定、および、垂直偏光および水平偏光の検出器の感度向上が達成されました。この測定品質はかつてない水準です。PIDSシグナルから得られた散乱強度と散乱角度の情報を、レーザー光散乱法による散乱強度と散乱角度データから作成した標準的なアルゴリズムに入力し、連続的な粒度分布を算出します。PIDSデータを取得することのもうひとつの大きな利点は、生データの簡単な解析によって、小さな粒子が実際に存在するかどうかを迅速に確認できることです。小さな粒子の場合にのみ検出される偏光散乱強度の差は、大きな粒子では検出されません。ソフトウェア
操作性の高いソフトウェアにより、経験豊富なユーザーにとっても未経験のユーザーにとっても、ワークフローが短縮され、メソッドの作成が迅速化され、日常的な操作が単純になりました。品質管理や研究開発における作業時間の短縮のため、LS 13 320 XRのソフトウェアではカスタマイズされたシステムオンモジュールの作成が可能になっています。ユーザーが行う必要があるのは、モジュール、サンプルの特性（採取した材料の定義など）、キャリア溶液を設定するだけです。メソッドを保存したら、また新しいメソッドを作成することなくすべての測定に対しいつでも使用できます。メソッドをLS 13 320 XRのソフトウェアにプログラム後、クリック3回ですぐに測定を開始できます。
- 事前に作成したメソッドを選択する
- Test-IDとGroup-IDを設定する
- Start Measurementをクリックする
60秒以内に結果が得られます。
応用分野と産業
LS 13 320 XRは、以下の多様な産業において使用あるいは製造される懸濁液、エマルジョン、乾燥粉末の簡単、迅速、正確な品質管理/品質保証の分析のためにデザインされています。
- 製薬
- 食品＆飲料
- 化成品＆材料
- 研磨剤
- セメント
- 化粧品
- トナー＆インク
- ナノテクノロジー
