LS 13 320

レーザ回折・散乱法の頂点

LS 13 320(エルエス 13 320)は、従来のレーザ回折・散乱法の概念を覆す次世代のレーザ回折・散乱法粒度分布測定装置です。世界で唯一、フラウンホーファー回折とミー散乱理論、さらにPIDS理論を用いたマルチ光学系を搭載し、最も高い分解能、卓越した精度、優れた再現性を得ることができます。また、新世代の5種類の洗練されたサンプルモジュールは、様々なサンプルに適用し、簡単に交換し、操作できるように設計されております。サンプルモジュールの交換はユニークな「オートドック」メカニズムを用いて、わずか数秒で行うことができます。便利な自動洗浄は、大容量な水溶媒系サンプルモジュールと、有機溶媒にも対応しているユニバーサルリキッドサンプルモジュールで利用することができます。トルネードドライパウダーサンプルモジュール(特許)を用いれば、乾式法で高分解能かつ高再現性で測定することができます。さらに全自動測定モジールは、28サンプルをフルオートメーションで測定します。

製品モデル

特長

ベックマン・コールターの粒度分布測定装置LS 13 320 MWの特長

  • LS 13 320には、4種類の「プラグ&プレイ」のモジュールがあり、乾燥粉末(トルネードドライパウダーモジュール)、有機溶媒(ユニバーサルリキッドモジュール)、微量サンプル(マイクロリキッドモジュール)、水に分散可能なサンプル(アクアリキッドモジュール、オートサンプラーと併用)を測定可能
  • 測定粒径:0.017~2,000 µm
  • 偏光散乱強度差計測(PIDS)技術を用いた、最も解像度の高いサブミクロン測定装置の1つです。
  • トルネードドライパウダーシステム
  • ファイバー光学空間フィルターシステム
  • オートドック - ユニークなモジュール交換システム
  • モジュールをウェット~ドライ間で交換した場合でも、わずか1分でウェットに戻せます。
  • ユーザーフレンドリーなソフトウエアと、先進のソフトウエアによるセキュリティ機能
  • 遵守が容易な標準操作方法
  • マルチコンポーネントの標準作業手順
  • 認証プログラムにより機器の性能を保証
  • V-Checkプログラム(IQ、OQ、PQ)により、機器の検証が可能

優れたデータ再現性を提供するLS 13 320 MW

  • レーザー回折を用いた粒径分析において再現性は最も重要な因子の1つ
  • 製品仕様の向上により、バルク資材や粒状物質のメーカーが、より高品質の製品を得ることが可能

標準的な操作手順と方法

  • SOPの作成が容易なため、分析方法と測定結果のレポートを標準化することが可能
  • アプリケーション、オペレーター、装置、設置数とは関係なく、SOPの使用により一貫性と均一性が保証され、高度なSOPをルーチンで使用して同じ分析を確実に実行
  • メソッドの設定から最終印刷までの測定の全要素を、ユーザー定義可能なSOPに組み込むことが可能

ソフトウエアセキュリティと21 CFR Part 11によりコンプライアンスを実現

  • LS 13 320 MWには設定可能なセキュリティシステムが付属
  • ユーザーのセキュリティレベルは4つのレベルから選択可能
  • No Security(セキュリティなし)からHigh Security(高度のセキュリティ)まで、ユーザーが選択可能
  • High Securityを選択すると、電子署名とレコードを扱うFDAの規則である21 CFR Part 11に準拠するようにソフトウェアが設定

関連資料

絞り込み:
 
Service Plans for Centrifuges and Particle Characterization Equipment Reliable instrument maintenance services for your Beckman Coulter centrifuge or particle characterization instrument
Meeting and Exceeding the Standard for Laser Diffraction Particle Size Analysis The LS 13 320 Series is the most versatile and sophisticated laser diffraction particle size analyzer available today

技術資料